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半导体/IC测试解决方案

IC测试分类机 SoC 测试系统

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Chroma HDAVO 高性能混和讯号解决方案

更新时间：2023-12-24

型号：

浏览量：1206

Chroma HDAVO 高性能混和讯号解决方案具有任意波形发生器（awg）和 digi zer （dgt）功能。该模块的仪器板上有8个 awg 和8个数字化器，可以分配到3680 soc 系统中的任何通用插槽。大120mhz 的仪器带宽和密度，可以满足各种设备类型的性能要求。
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Chroma 36020 精密直流电源供应模块

更新时间：2023-12-24

型号：

浏览量：1233

Chroma 36020 精密直流电源供应模块提供精密信号源和测量能力的电源供应器 36020 使用组合开关和线性调节来提供优异的电压信号源与精准度。4个channel中每一个都能提供电压。
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Chroma 36010 高精准可程控逻辑脚位模块

更新时间：2023-12-24

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浏览量：1079

Chroma 36010 高精准可程控逻辑脚位模块提供17种以上的 sequence 指令，包括 jump、match、 loop、 repeat等，可以控制pattern的执行流程。 36010 配有 32M的 sequence command 内存，允许每行 vector 拥有独立的sequence command 来控制 pattern的执行流程。
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Chroma 3650-CX SoC测试系统

更新时间：2023-12-24

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浏览量：1387

Chroma 3650-CX SoC测试系统的软体测试环境CRISP （ Chroma Integrated Software Platform），是一个结合工程开发与量产需求的软体平台。主要包含四个部份 : 执行控制模组、资料分析模组、程式除错模组以及测试机台管理模组。
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Chroma 3650 SoC测试系统

更新时间：2023-12-24

型号：

浏览量：1273

Chroma 3650 SoC测试系统软体测试环境CRISP（Chroma Integrated Software Plat form），是一个结合工程开发与量产需求的软体平台。主要包含四个部份 : 执行控制模组、资料分析模组、程式除错模组以及测试机台管理模组。
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Chroma 3650-EX SoC/Aanlog测试系统

更新时间：2023-12-24

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Chroma 3650-EX SoC/Aanlog测试系统在设计其架构时，应用先进的规划，具备AD/DA转换器测试模组、ALPG记忆体测试模组、高电压PE输出模组和多重扫描链测试模组、类比测试模组等等选配，以确保符合未来多年的测试需求。
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Chroma 3680 SoC/模拟测试系统

更新时间：2023-12-24

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致茂 Model 3680 先进SoC/模拟测试系统提供灵活的配置和广泛的覆盖范围，以高度兼容性测试不同类型的设备。3680测试系统可灵活地在24个通用插槽内部署多达2048数字通道管脚的数字信号，其数字性能高达1Gbps，大的默认256MW向量内存
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