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Chroma 3650 SoC测试系统

更新时间:  2020-05-06

产品型号:  

产品报价:  

所  在  地:  岳麓区麓谷新长海中心B3栋

产品特点:  Chroma 3650 SoC测试系统软体测试环境CRISP(Chroma Integrated Software Plat form),是一个结合工程开发与量产需求 的软体平台。主要包含四个部份 : 执行控制模 组、资料分析模组、程式除错模组以及测试机 台管理模组。

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产品概述

Chroma 3650 SoC测试系统软体测试环境CRISP(Chroma Integrated Software Plat form),是一个结合工程开发与量产需求 的软体平台。主要包含四个部份 : 执行控制模 组、资料分析模组、程式除错模组以及测试机 台管理模组。透过亲切的图形人机介面的设 计,CRISP提供多样化的开发与除错工具,包含 :Shmoo plot、Waveform tool、Scope tool、Pin Margin、Pattern Editor与Plan Debugger 等软体 模组,可满足研发/测试工程师开发程式时的需 求 ; 此外,Histogram tool 可用于重复任一测试 参数,包含时序、电压、电流等,以评估其测试 流程之稳定度。

在量产工具的部份,透过特别为操作员所设计 的量产平台,生 产人员可轻易地控制每个测试阶段。它提供产品 导向的图形介面操作,用来控制 Chroma 3650、 晶圆针测机和送料机等装置沟通。程式设计者 可先行在Production Setup Tool视窗之下设定OCI 的各项参数,以符合生产环境的需求。而操 作员所需进行的工作,只是选择 程式设计者已规划好的流 程,即可开始量产,大幅 降低生产线上的学习的时 间。

Chroma 3650 SoC测试系统的特色:

  • 50/100MHz测试工作频率
  • 512个 I/O 通道(I/O Channel)
  • 16M (32M Max.) Pattern 记忆体(Pattern Memory)
  • Per-Pin 弹性资源架构
  • 32 DUTS 平行测试功能
  • ADC/DAC 测试功能
  • 硬体规则模式产生器(Algorithmic Pattern Generator)
  • BIST/DFT扫描链(Scan Chain)测试模组选项
  • 好学易用的 Windows XP 作业环境
  • 每片 VI45 类比单板可支援8~32通道
  • 每片 PVI100 类比单板可支援2~8通道
  • 弹性化的 MS C/C++ 程式语言
  • 即时pattern编辑器,含Fail pin/address显示
  • 测试程式/测试pattern转换软体(J750, SC312)
  • 多样化测试分析工具 : Shmoo plot,Waveform display, Wafer Map, Pin Margin,Scope tool, Histogram tool等等
  • 实惠的VLSI和消费性混合信号晶片产品的测试方案

 

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