您好!欢迎访问长沙艾克赛普仪器设备有限公司网站!
全国服务咨询热线:

18975134808

当前位置:首页 > 产品中心 > 半导体/IC测试解决方案 > SoC 测试系统 > Chroma 3650 SoC测试系统

Chroma 3650 SoC测试系统

简要描述:Chroma 3650 SoC测试系统软体测试环境CRISP(Chroma Integrated Software Plat form),是一个结合工程开发与量产需求 的软体平台。主要包含四个部份 : 执行控制模 组、资料分析模组、程式除错模组以及测试机 台管理模组。

  • 产品型号:
  • 厂商性质:经销商
  • 更新时间:2020-05-06
  • 访  问  量:352

相关文章

Related Articles

详细介绍

品牌其他品牌产地类别进口
应用领域医疗卫生,化工,生物产业,电子,交通

Chroma 3650 SoC测试系统软体测试环境CRISP(Chroma Integrated Software Plat form),是一个结合工程开发与量产需求 的软体平台。主要包含四个部份 : 执行控制模 组、资料分析模组、程式除错模组以及测试机 台管理模组。透过亲切的图形人机介面的设 计,CRISP提供多样化的开发与除错工具,包含 :Shmoo plot、Waveform tool、Scope tool、Pin Margin、Pattern Editor与Plan Debugger 等软体 模组,可满足研发/测试工程师开发程式时的需 求 ; 此外,Histogram tool 可用于重复任一测试 参数,包含时序、电压、电流等,以评估其测试 流程之稳定度。

在量产工具的部份,透过特别为操作员所设计 的量产平台,生 产人员可轻易地控制每个测试阶段。它提供产品 导向的图形介面操作,用来控制 Chroma 3650、 晶圆针测机和送料机等装置沟通。程式设计者 可先行在Production Setup Tool视窗之下设定OCI 的各项参数,以符合生产环境的需求。而操 作员所需进行的工作,只是选择 程式设计者已规划好的流 程,即可开始量产,大幅 降低生产线上的学习的时 间。

Chroma 3650 SoC测试系统的特色:

  • 50/100MHz测试工作频率
  • 512个 I/O 通道(I/O Channel)
  • 16M (32M Max.) Pattern 记忆体(Pattern Memory)
  • Per-Pin 弹性资源架构
  • 32 DUTS 平行测试功能
  • ADC/DAC 测试功能
  • 硬体规则模式产生器(Algorithmic Pattern Generator)
  • BIST/DFT扫描链(Scan Chain)测试模组选项
  • 好学易用的 Windows XP 作业环境
  • 每片 VI45 类比单板可支援8~32通道
  • 每片 PVI100 类比单板可支援2~8通道
  • 弹性化的 MS C/C++ 程式语言
  • 即时pattern编辑器,含Fail pin/address显示
  • 测试程式/测试pattern转换软体(J750, SC312)
  • 多样化测试分析工具 : Shmoo plot,Waveform display, Wafer Map, Pin Margin,Scope tool, Histogram tool等等
  • 实惠的VLSI和消费性混合信号晶片产品的测试方案

 

产品咨询

留言框

  • 产品:

  • 您的单位:

  • 您的姓名:

  • 联系电话:

  • 常用邮箱:

  • 省份:

  • 详细地址:

  • 补充说明:

  • 验证码:

    请输入计算结果(填写阿拉伯数字),如:三加四=7
长沙艾克赛普仪器设备有限公司
地址:长沙市车站北路579号湘域智慧1栋
邮箱:service@hncsw.net
传真:0731-84284378
关注我们
欢迎您关注我们的微信公众号了解更多信息:
欢迎您关注我们的微信公众号
了解更多信息