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Chroma 3650-EX SoC/Aanlog测试系统

更新时间:  2020-05-06

产品型号:  

产品报价:  

所  在  地:  岳麓区麓谷新长海中心B3栋

产品特点:  Chroma 3650-EX SoC/Aanlog测试系统在设计其架构时,应用先进 的规划,具备AD/DA转换器测试模组、ALPG记 忆体测试模组、高电压PE输出模组和多重扫描 链测试模组、类比测试模组等等选配,以确保 符合未来多年的测试需求。

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产品概述

Chroma 3650-EX SoC/Aanlog测试系统在设计其架构时,应用先进 的规划,具备AD/DA转换器测试模组、ALPG记 忆体测试模组、高电压PE输出模组和多重扫描 链测试模组、类比测试模组等等选配,以确保 符合未来多年的测试需求。另Chroma 3650-EX具 有MRX(Mixed-Signal and Rf boX)模组,可实现从 设计端至量产端使用同一PXI平台已减少因硬体 不同所造成的测试误差。它的软体测试环境CRI SP(Chroma Integr a ted Software Plat form),是一个结合工程开发与量 产需求的软体平台。主要包含四个部份 : 执行控 制模组、资料分析模组、程式除错模组以及测 试机台管理模组。透过亲切的图形人机介面的 设计,CRISP提供多样化的开发与除错工具,包 含:Shmoo plot、Waveform tool、Scope tool、Pin Margin、Pattern Editor与Plan Debugger 等软体 模组,可满足研发/测试工程师开发程式时的需 求 ; 此外,Histogram tool 可用于重复任一测试 参数,包含时序、电压、电流等,以评估其测试 流程之稳定度。

Chroma 3650-EX SoC/Aanlog测试系统特色:

  • 50/100MHz测试工作频率
  • 1024个 I/O 通道(I/O Channel)
  • 32M (64M Max.) Pattern 记忆体 (Pattern Memory)
  • Per-Pin 弹性资源架构
  • 512 DUTS 平行测试功能
  • 96个电源通道
  • 硬体规则模式产生器 (Algorithmic Pattern Generator)
  • BIST/DFT扫描链(Scan Chain)测试模组选项
  • 好学易用的 WINDOWS 7作业环境
  • 每片 VI45 类比单板可支援8~32通道
  • 每片 PVI100 类比单板可支援2~8通道
  • 每片 HDADDA 混合讯号单板可支援32通道
  • 弹性化的 MS C/C++ 程式语言
  • 即时pattern编辑器,含Fail pin/address显示
  • 测试程式/测试pattern转换软体(J750-EX)
  • 多样化测试分析工具 : Shmoo plot, Waveform display, Wafer Map, Pin Margin,Scope tool,Histogram tool 等
  • 实惠的SoC和消费性混合信号晶片产品测试方案

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