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    JEOL JEM-ARM200F NEOARM 透射电子显微镜

    更新时间:2019-08-16

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    JEOL JEM-ARM200F NEOARM 透射电子显微镜标配了冷场发射电子枪和全新的高阶球差校正器。无论是在200kV的高加速电压还是在30kV的低加速电压下,均能实现原子级分辨率的观察与分析。同时还配备了自动像差校正系统,采用像差校正算法,可以自动进行快速准确的像差校正。由此实现了高通量的原子级分辨率成像。
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