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透射电子显微镜扫描电子显微镜

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扫描/透射电子显微镜

更新时间：2023-12-26

型号：

浏览量：1368

JEOL JSM-7610FPlus 扫描/透射电子显微镜采用半浸没式物镜和High Power Optics照明系统，提供稳定的高空间分辨率观察和分析。此外还具备利用GENTLEBEAMTM模式进行低加速电压观察、通过r-filter分选信号等满足各种需求的高扩展性。
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JEOL JSM-7610FPlus扫描/透射电子显微镜

更新时间：2023-12-26

型号：JEOL JSM-7610FPlus

浏览量：2009

JEOL JSM-7610FPlus 扫描/透射电子显微镜采用半浸没式物镜和High Power Optics照明系统，提供稳定的高空间分辨率观察和分析。此外还具备利用GENTLEBEAMTM模式进行低加速电压观察、通过r-filter分选信号等满足各种需求的高扩展性。
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JEOL JSM-7610FPlus 扫描电子显微镜

更新时间：2023-12-20

型号：

浏览量：3071

JEOL JSM-7610FPlus 扫描电子显微镜采用半浸没式物镜和High Power Optics照明系统，提供稳定的高空间分辨率观察和分析。此外还具备利用GENTLEBEAMTM模式进行低加速电压观察、通过r-filter分选信号等满足各种需求的高扩展性。
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JEOL JEM-ARM200F NEOARM 透射电子显微镜

更新时间：2023-12-20

型号：

浏览量：2968

JEOL JEM-ARM200F NEOARM 透射电子显微镜标配了冷场发射电子枪和全新的高阶球差校正器。无论是在200kV的高加速电压还是在30kV的低加速电压下，均能实现原子级分辨率的观察与分析。同时还配备了自动像差校正系统，采用像差校正算法，可以自动进行快速准确的像差校正。由此实现了高通量的原子级分辨率成像。
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