Chroma 58131 OLED寿命周期测试系统

Chroma  58131 OLED寿命周期测试系统

本系统以开放式的PXI架构为硬体基础，可任意扩充测试组数，PXI系统具有先进的 "Hot plug ＆ play"功能，即当测试中的某一待测物发生短路或故障时，仅需移除发生故障之待测物，不影响其他测试中之待测物，系统仍可持续测试，可大量提升测试效能。

人性化的软体介面，可自行设计电源输出模式、电源参数值、量测时间、亮度校正等项目，并有曲线绘图、资料表显示及储存，让您可轻松分析测试报告。另外，测试治具的设计，便利的19吋机架，可随意移动测试环境，精密轻巧的测试盒，可轻松替换待测物，电脑主机及荧幕组装于机架上，以随时了解测试状况，18个插槽的PXI机箱，可同时检测34组待测物，让你拥有体积小，待测模组多的超迷你测试系统。

Chroma  58131 OLED寿命周期测试系统的特色：

独立且精密的量测方式(PMU)

• 提供高精确度的电压及电流
• 高精确度的量测能力
• 单一待测物故障自我控制，不影响其他测试中的待测物

测试功能

• 电气特性量测
• 亮度量测
• 自行设计输出模式(正负电压及电流)

自动测试及资料载入

• PXI机箱含嵌入式控制器
• OLED测试卡 (一张PXI卡可测试两个OLED面板)
• 每个系统大可提供34组待测物

选购配备

• 频谱分析量测光学特性
• Turnkey 测试解决方案
• 客制化的测试治具(可接受不同尺寸的OLED面板)
• 部分机架可置入滑动抽屉(每个抽屉有四组治具)