网站首页  ◇  产品展示    ◇   ◇   平面显示器测试解决方案 > Chroma 58131 OLED寿命周期测试系统

Chroma 58131 OLED寿命周期测试系统

更新时间:  2020-04-29

产品型号:  

产品报价:  

所  在  地:  岳麓区麓谷新长海中心B3栋

产品特点:  致茂 Model 58131 OLED寿命周期测试系统58131是专针对OLED寿命试验所设计的测试系统,58131可作电气特性的量测,如正负电压、电流的供给及量测、亮度的量测及自动量测OLED亮度寿命时间,并可选购频谱分析卡,量测光学特性的功能。

(联系我们,请说明是在 长沙艾克赛普仪器设备有限公司 上看到的信息,谢谢!)
产品展示

PRODUCTS

相关文章

ARTICLE

诚信天下,质得信任

共创共赢

产品概述

Chroma  58131 OLED寿命周期测试系统

本系统以开放式的PXI架构为硬体基础,可任意扩充测试组数,PXI系统具有先进的 "Hot plug & play"功能,即当测试中的某一待测物发生短路或故障时,仅需移除发生故障之待测物,不影响其他测试中之待测物,系统仍可持续测试,可大量提升测试效能。

人性化的软体介面,可自行设计电源输出模式、电源参数值、量测时间、亮度校正等项目,并有曲线绘图、资料表显示及储存,让您可轻松分析测试报告。另外,测试治具的设计,便利的19吋机架,可随意移动测试环境,精密轻巧的测试盒,可轻松替换待测物,电脑主机及荧幕组装于机架上,以随时了解测试状况,18个插槽的PXI机箱,可同时检测34组待测物,让你拥有体积最小,待测模组最多的超迷你测试系统。

Chroma  58131 OLED寿命周期测试系统的特色:

独立且精密的量测方式(PMU)

  • 提供高精确度的电压及电流
  • 高精确度的量测能力
  • 单一待测物故障自我控制,不影响其他测试中的待测物

测试功能

  • 电气特性量测
  • 亮度量测
  • 自行设计输出模式(正负电压及电流)

自动测试及资料载入

  • PXI机箱含嵌入式控制器
  • OLED测试卡 (一张PXI卡可测试两个OLED面板)
  • 每个系统最大可提供34组待测物

选购配备

  • 频谱分析量测光学特性
  • Turnkey 测试解决方案
  • 客制化的测试治具(可接受不同尺寸的OLED面板)
  • 部分机架可置入滑动抽屉(每个抽屉有四组治具)

留言框

  • 产品:

  • 留言内容:

  • 您的单位:

  • 您的姓名:

  • 联系电话:

  • 常用邮箱:

  • 详细地址:

  • 省份:

  • 验证码:

    请输入计算结果(填写阿拉伯数字),如:三加四=7
长沙艾克赛普仪器设备有限公司

长沙艾克赛普仪器设备有限公司

联系人:肖经理  电话:86-0731-84284378  邮箱:lxd@hncsw.net  工厂地址:岳麓区麓谷新长海中心B3栋

版权所有 © 2019 长沙艾克赛普仪器设备有限公司  总流量:53990  

管理登陆  网站地图  技术支持:化工仪器网

QQ在线客服
电话咨询
  • 18973153617
扫一扫访问手机站扫一扫访问手机站
访问手机站