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半导体/IC测试解决方案

IC测试分类机 SoC 测试系统

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Chroma 3180 八站逻辑测试分类机

更新时间：2023-12-24

型号：

浏览量：1292

Chroma 3180 八站逻辑测试分类机有着高可靠性的处理机制可依据测试需求支援各种不同类型封装的晶片，且能与通用生产治具相容，顺畅的自动化技术满足高产能和低Jam Rate的量产要求。此外，可调式的压测力和位置校正以及各种感应装置可降低待测物发生突如其来的损坏，和帮助延长socket的使用期，同时保持或提升产能的良率。
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Chroma 3160C 三温四站终端测试分类机

更新时间：2023-12-24

型号：

浏览量：975

Chroma 3160C 三温四站终端测试分类机是一台可提供大量且多个IC测试的分类机。该设备可提供多种封装方试的IC测试，且支持1/2/4 sites的测试需求。另外，由于可靠的机构及功能设计，也让该设备能提供更高的产出及降低设备当机率，3160-C能更有效提升生产力并缩短更换kit部件的时间，且主动式温控系统（ATC）更可提供待测物-55°C to 150°C的测试环境。
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Chroma 3160 终端测试分类机

更新时间：2023-12-24

型号：

浏览量：823

Chroma 3160 终端测试分类机是一系列适合量产、高产出、多平行测试站点的高速IC测试分类机。此系列分类机运用Pick & Place技术，能够配合多种封装类型并按照测试结果将它们排序分类予分料盘中。其高效率的模组化设计与精准的机构传动结构可确保在高速运作下，机台量测之重复性，并有助于增加机台使用之稳定性与维护之便利性。此外，其简洁的机台设计更可节省机台于测试厂之占地面积，帮助客户大幅降低
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Chroma 3112 晶片测试分类机

更新时间：2023-12-24

型号：

浏览量：1280

Chroma 3112 晶片测试分类机其高效率的模组化设计与精准的机构传动结构可确保在高速运作下减少Jam Rate的量产要求，多重检查功能装置可降低待测物发生异常的损坏。
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Chroma 3111 桌上型单站测试分类机

更新时间：2023-12-24

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浏览量：937

Chroma 3111 桌上型单站测试分类机具备远端功能可于任何地点透过网路连接方式进行控制，3111可用软体设定JEDEC料盘的分配以及进行工程测试，在60公分平方的空间里发挥大的效用以节省时间和成本，简易操作的系统介面（Windows™）提供一各快速且容易的设定方式，可简化流程并提高效率。
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Chroma 3110-FT 三温测试分类机

更新时间：2023-12-24

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浏览量：1090

Chroma 3110-FT 三温测试分类机三温测试分类机同时包含预温区，可改善测试时间及产出;配有2个自动分料盘及2个手动分料盘，在仅1.4平方米的空间发挥的IC分料能力以节省成本与时间。
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Chroma 3110 双用单站测试分类机

更新时间：2023-12-24

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浏览量：986

Chroma 3110 双用单站测试分类机 3110 不但适用于系统功能检测，也同时具备终端电性测试的能力。可综合各元件的整体效能并执行测试系统上的所有测试程式，旨在提供一个全能的解决方案。
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Chroma HDAVO 高性能混和讯号解决方案

更新时间：2023-12-24

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浏览量：1115

Chroma HDAVO 高性能混和讯号解决方案具有任意波形发生器（awg）和 digi zer （dgt）功能。该模块的仪器板上有8个 awg 和8个数字化器，可以分配到3680 soc 系统中的任何通用插槽。大120mhz 的仪器带宽和密度，可以满足各种设备类型的性能要求。
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