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日置HIOKI 飞针测试机FA1116

更新时间:  2020-05-15

产品型号:  

产品报价:  

所  在  地:  岳麓区麓谷新长海中心B3栋

产品特点:  日置HIOKI 飞针测试机FA1116 专用电容法测量的光板测试机FA1116与以前同款飞针测试机相比,在相同测试速度条件下实现了测试针痕深度减半。测试针痕变得更小并不仅仅是此款设备的优点;提高设备的移动速度设定,也可实现测量时间的缩减。

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日置HIOKI 飞针测试机FA1116

电容法测量的优点

电容测量法是飞针测试机缩短测量时间的不可或缺的方法。中间也可吸附的最大的优点就是「不考虑形状、层数即可测试」不通过测试验证为良品的话,辛苦制成的产品是无法出货的。 「可以测试」,这个对测试机来说是最重要的课题。 测试时间由测试点数与针痕考量综合后设定的速度决定。 单面、软板、封装,CSP等无需在意形状、厚度即可开始测试。

单面吸附式电容测量法的优点(非导通测试)

可实现「1:其他网络」间的非导通测试是单面测试机的特点。
双面测试的飞针测试机上也可能会出现因基准的GND层设定而只能使用电容法无法测量的测试点。因此电阻测量的测试网络会增加,导致双面板的测试时间对比微细的多层板还要长的现象频繁地发生。
单面电容测量的话,因为是吸附在同一基准电极上,即使是线路板间的短路,测试时间稍微延长一点的话就可以检测出短路不良。

稳定的针痕控制及高速测试

只要进行电气测试,在线路板上就无可避免地会产生针痕。
虽是既定事实,但如果测试对象统一的话,测试机也可简单地限定某些条件。 相对而言,在难以把握接触面状态的双面测试中,探针的接触构造也变得复杂。 也就是说,使用吸附式测试机时,因为线路板的测试面是固定的,可迅速设定「尽量减少测试时间」的各种条件(速度、下压量等)。机械构造良好,操作简单;即使不使用接触检查功能和测试面高度补偿,最终也可实现测试时间的缩短。

日置HIOKI 飞针测试机FA1116的参数:

手臂数量2
测试步数最多40,000步/piece
300,000步/sheet
测试范围DC测量功能
电阻:400 μΩ〜40 MΩ
电容:4 μF〜400 mF
二极管、三极管 (VF):0〜25 V
齐纳二极管 (VZ):0~25 V
短路:400 mΩ~40 kΩ
开路:4 Ω~4 MΩ
电压:0〜25 V
 
AC测量功能
电阻:100 Ω〜100 MΩ
电容:10 fF〜10 μF
电感:10 μH〜100 mH
测试时间Max.100 points/s
(0.1 mm移動, 2アーム同時プロービング, 容量測定時)
探针可测区域610W × 510D mm
可测基板尺寸厚度: 0.1〜3.2 mm
外形:50W × 50D〜610W × 510 mm
元件搭载范围:上测10 mm (含板厚), 下侧:0.1 mm
基板传送无自动传送规格
电源AC200 V ±10% (单相) 50/60 Hz, 3 kVA
尺寸・重量1443W × 1656H × 1185D mm, 1000 kg

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