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Chroma 3270 微型IC测试分类机

更新时间:  2020-05-06

产品型号:  

产品报价:  

所  在  地:  岳麓区麓谷新长海中心B3栋

产品特点:  Chroma 3270 微型IC测试分类机特别适合 CMOS 影像感应组件 (CIS : CMOS Image Sensor) 量产所需,Chroma 3270 可配合多种不同的封装类型包括传统的QFP、TQFP、 μBGA、PGA及CSP封装。Chroma 3270 采用 Pick & Place 技术,可从JEDEC夹盘来拾取IC,移动到测试位置,然后将测试后产品置于适当之 Tray 盘。

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产品概述

Chroma 3270 微型IC测试分类机特别适合 CMOS 影像感应组件 (CIS : CMOS Image Sensor) 量产所需,Chroma 3270 可配合多种不同的封装类型包括传统的QFP、TQFP、 μBGA、PGA及CSP封装。Chroma 3270 采用 Pick & Place 技术,可从JEDEC夹盘来拾取IC,移动到测试位置,然后将测试后产品置于适当之 Tray 盘。

Chroma 3270 能同时处理32个待测物进行平行测试,并提供50˚C~125˚C高温测试选择。不但能提高产量,提升生产良率,同时大幅降低测试成本。

Chroma 3270 微型IC测试分类机的特色:

  • 适合 CMOS 影像感应组件量产需求
  • 可靠的高速 Pick&Place 分类机
  • 3x3 mm 微型 IC 处理能力
  • 浮动头可有效率平衡测试压力
  • 自动测试压力学习
  • IC 残留检测功能

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